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Das Fraunhofer ENAS ist Forschungs- und Entwicklungspartner
im Bereich des Testens, der Prüfung und Zuverlässigkeitsbewertung
von mikroelektronischen Komponenten
und Systemen. Von Design, Modellierung und Simulation,
über Testmethoden und End-of-Life-Vorhersagen bis hin zu
datenbasierten Modellen unterstützt das Institut Kunden
mit umfassenden Lösungen für ihre komplexen Fragestellungen
und begleitet sie über den gesamten Transferprozess
bis zur Marktreife (»Lab-to-Fab«).

Die Forschungs- und Entwicklungsleistungen umfassen:
- Tests auf Wafer-, Chip- und Komponentenlevel
- Charakterisierung
- Zuverlässigkeitsbewertung
- Datenanalyse