Vorträge und mehr
Das Technology Forum in Halle 2 steht am 11. und 12. Juni unter dem Motto Innovative Calibration.
Der Eintritt für Besucher ist frei.
Sie können nicht vor Ort sein? Alle Vorträge werden live übertragen und die Aufnahmen nach der Veranstaltung online veröffentlicht.
♦ Vortrag wird in Englisch gehalten
Dienstag, 11.06.2024
10:00-10:30
Eine Kalibrierung vornehmen unter Zuhilfenahme der Software OriginPro
Dipl.-Ing. (FH) Markus Höhnen, Senior Vertriebsingenieur, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
10:30-11:00
Systemkalibrierung und -analyse mit dem Wolfram System Modeler und der Wolfram Language
Harald Farcas, Wolfram Produktmanager, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
11:00-11:30
Multi-axiale Kalibrierung: Verfahren und Messunsicherheit
Gerhard Schulder, Product Development, GTM Testing and Metrology GmbH, Bickenbach, Stand 1-567
11:30-12:00
♦ Smart Calibration on the Horizon: Is your Organization Up for the Challenge?
Matilda Ullrich + Ingo Müllner, Beamex GmbH, Mönchengladbach, Stand 2-110
Special Session
Moderation: Prof. mult. Dr.-Ing. Klaus-Dieter Sommer,
Technische Universität Ilmenau, Institute Process Measurement &
Sensor Technology (IPMS), Ilmenau (Germany)
12:00-13:00
Digital Calibration Certificates (DCC) und GEMIMEG-II
Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig
13:00-14:00
Von der Selbstdiagnose zur in-situ metrologischen Bestätigung
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach (Germany)
14:00-14:30
Der digitale Kalibrierschien (DCC) mit Akkreditierung: Metrologische Rückführung und Qualitätssicherung auf Knopfdruck
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, Stand 2-4C
14:30-15:00
Auswirkungen der Mobilitäts- und Energiewende auf das gesetzliche Messwesen
Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover
15:00-16:00
♦ The NIST-on-a-Chip Program - Towards One-Step Traceability
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg
16:00-17:00
♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz
Mittwoch, 12.06.2024
10:00-10:30
Meatest Kalibriertechnik - Produktübersicht und Vorstellung der aktuellen Multifunktionskalibratoren Serie 9000
Guido Rienks, Geschäftsführer, ADM Messtechnik GmbH & Co. KG, Gelnhausen, Stand 2-3A
10:30-11:00
Wie präzise und genau messe ich - ist mein Messsystem kalibriert? Messsystemanalyse (MSA) mit der Software Minitab
M.Sc. Lisa Schreiber, Solution Analyst, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
11:00-11:30
♦ Non-contact torque sensors with innovative compensation for environmental effects such as speed, temperature and parasitic forces
Dr. Ernst Manner, Geschäftsführung, Manner Sensortelemetrie GmbH, Spaichingen, Stand 1-556
11:30-12:00
♦ Accredited Digital Calibration Certificates (DCCs): Automated Generation and Utilization for Thermal Process Monitoring
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, Stand 2-4C
Special Session
Moderation: Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische
Bundesanstalt (PTB), Braunschweig (Germany)
12:00-13:00
♦ Digital Calibration Certificates (DCC) and GEMIMEG-II
Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig
13:00-14:00
♦ From self-diagnosis to in-situ metrological verification
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach
14:00-14:30
♦ Effects of mobility and energy transition on legal metrology
Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover
14:30-15:30
♦ The NIST-on-a-Chip Program - Towards One-Step Traceability with a Focus on Quantum Based Technologies
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)
15:30-16:30
♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz
