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Mit der Fasersegment-Interferometrie (FSI) bietet Kistler eine innovative faseroptische Messtechnologie zur hochpräzisen Erfassung von Temperatur, Dehnung (Strain) sowie 2D- und 3D-Formen. Die Lösung ermöglicht verteilte Messungen entlang einer einzigen Glasfaser mit hoher Auflösung und Dynamik – selbst unter extremen Bedingungen. Dank elektromagnetischer Immunität, kompakter Bauweise und minimalinvasiver Integration eignet sich FSI ideal für Anwendungen in Hochspannungsumgebungen, der Batterieentwicklung, strukturellen Analysen sowie im Maschinenbau und in der Luft- und Raumfahrt. In Kombination aus Sensoren und Interrogatoren liefert das System zuverlässige Echtzeitdaten für anspruchsvolle Test-, Monitoring- und Validierungsaufgaben.
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