Das Programm

Das Technology Forum in Halle 2 steht am 6. und 7. Mai unter dem Motto Innovative Calibration.

Der Eintritt für Besucher ist frei.

Sie können nicht vor Ort sein? Alle Vorträge werden live übertragen und die Aufnahmen nach der Veranstaltung online veröffentlicht.

♦ Vortrag wird in Englisch gehalten

Dienstag, 06.05.2025

                     Special Session
                     Moderation: t.b.d.

12:00-12.30
Von der Selbstdiagnose zur in-situ metrologischen Bestätigung
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach

12:30-13:30
Metrologische Rückführung auf Knopfdruck | Digitale Zertifikate und die Automatisierung der Qualitätssicherung
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin

13:30-14:30
♦ The NIST-on-a-Chip Program Vision: Quantum-Based Measurements and Sensors with One-Step Traceability
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)

14:30-15:30
Echtzeit-Diagnostik für nachhaltige industrielle Prozesse
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz

Mittwoch, 07.05.2025

                     Special Session
                     Moderation: t.b.d.

13:00-13:30
♦ From self-diagnosis to in-situ metrological verification
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach

13:30-14:30
♦ Digital Certificates and the Automation of Quality Assurance | Metrological Traceability is just a Click away
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin

14:30-15:30
♦ The NIST-on-a-Chip Program Vision: Quantum-Based Measurements and Sensors with One-Step Traceability
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)

15:30-16:00
♦ Options for conformity evaluation and verification of hydrogen fuel dispensers with metrologically traceable test equipment
Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover

16:00-16:30
♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz