Presentations Lecture Forum Hall 2

♦ Lecture will be held in English

Jun 11, 2024

  • 10:00 - 10:30
    Eine Kalibrierung vornehmen unter Zuhilfenahme der Software OriginPro
    Dipl.-Ing. (FH) Markus Höhnen, Senior Vertriebsingenieur, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
  • 10:30 - 11:00
    Systemkalibrierung und -analyse mit dem Wolfram System Modeler und der Wolfram Language
    Harald Farcas, Wolfram Produktmanager, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
  • 11:00 - 11:30
    Multi-axiale Kalibrierung: Verfahren und Messunsicherheit
    Gerhard Schulder, Product Development, GTM Testing and Metrology GmbH, Bickenbach, Stand 1-567
  • 11:30 - 12:00
    ♦ Smart Calibration on the Horizon: Is your Organization Up for the Challenge?
    Matilda Ullrich + Ingo Müllner, Beamex GmbH, Mönchengladbach, Stand 2-110
  • 12:00 - 13:00
    Digital Calibration Certificates (DCC) und GEMIMEG-II
    Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig
  • 13:00 - 14:00
    Von der Selbstdiagnose zur in-situ metrologischen Bestätigung
    Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach
  • 14:00 - 14:30
    Der digitale Kalibrierschien (DCC) mit Akkreditierung: Metrologische Rückführung und Qualitätssicherung auf Knopfdruck
    Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, Stand 2-4C
  • 14:30 - 15:00
    Auswirkungen der Mobilitäts- und Energiewende auf das gesetzliche Messwesen
    Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover
  • 15:00 - 16:00
    ♦ The NIST-on-a-Chip Program - Towards One-Step Traceability
    Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)
  • 16:00 - 17:00
    ♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
    Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz

Jun 12, 2024

  • 10:00 - 10:30
    Meatest Kalibriertechnik - Produktübersicht und Vorstellung der aktuellen Multifunktionskalibratoren Serie 9000
    Guido Rienks, Geschäftsführer, ADM Messtechnik GmbH & Co. KG, Gelnhausen, Stand 2-3A
  • 10:30 - 11:00
    Wie präzise und genau messe ich - ist mein Messsystem kalibriert? Messsystemanalyse (MSA) mit der Software Minitab
    M.Sc. Lisa Schreiber, Solution Analyst, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
  • 11:00 - 11:30
    ♦ Non-contact torque sensors with innovative compensation for environmental effects such as speed, temperature and parasitic forcese
    Dr. Ernst Manner, Geschäftsführung, Manner Sensortelemetrie GmbH, Spaichingen, Stand 1-556
  • 11:30 - 12:00
    ♦ Accredited Digital Calibration Certificates (DCCs): Automated Generation and Utilization for Thermal Process Monitoring
    Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, Stand 2-4C
  • 12:00 - 13:00
    ♦ Digital Calibration Certificates (DCC) and GEMIMEG-II
    Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig
  • 13:00 - 14:00
    ♦ From self-diagnosis to in-situ metrological verification
    Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach
  • 14:00 - 14:30
    ♦ Effects of mobility and energy transition on legal metrology
    Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover
  • 14:30 - 15:30
    ♦ The NIST-on-a-Chip Program - Towards One-Step Traceability with a Focus on Quantum Based Technologies
    Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)
  • 15:30 - 16:30
    ♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
    Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz
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