Presentations Lecture Forum Hall 2
♦ Lecture will be held in English
Jun 11, 2024
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10:00 - 10:30
Eine Kalibrierung vornehmen unter Zuhilfenahme der Software OriginPro
Dipl.-Ing. (FH) Markus Höhnen, Senior Vertriebsingenieur, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
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10:30 - 11:00
Systemkalibrierung und -analyse mit dem Wolfram System Modeler und der Wolfram Language
Harald Farcas, Wolfram Produktmanager, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
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11:00 - 11:30
Multi-axiale Kalibrierung: Verfahren und Messunsicherheit
Gerhard Schulder, Product Development, GTM Testing and Metrology GmbH, Bickenbach, Stand 1-567
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11:30 - 12:00
♦ Smart Calibration on the Horizon: Is your Organization Up for the Challenge?
Matilda Ullrich + Ingo Müllner, Beamex GmbH, Mönchengladbach, Stand 2-110
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12:00 - 13:00
Digital Calibration Certificates (DCC) und GEMIMEG-II
Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig
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13:00 - 14:00
Von der Selbstdiagnose zur in-situ metrologischen Bestätigung
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach
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14:00 - 14:30
Der digitale Kalibrierschien (DCC) mit Akkreditierung: Metrologische Rückführung und Qualitätssicherung auf Knopfdruck
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, Stand 2-4C
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14:30 - 15:00
Auswirkungen der Mobilitäts- und Energiewende auf das gesetzliche Messwesen
Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover
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15:00 - 16:00
♦ The NIST-on-a-Chip Program - Towards One-Step Traceability
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)
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16:00 - 17:00
♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz
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Jun 12, 2024
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10:00 - 10:30
Meatest Kalibriertechnik - Produktübersicht und Vorstellung der aktuellen Multifunktionskalibratoren Serie 9000
Guido Rienks, Geschäftsführer, ADM Messtechnik GmbH & Co. KG, Gelnhausen, Stand 2-3A
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10:30 - 11:00
Wie präzise und genau messe ich - ist mein Messsystem kalibriert? Messsystemanalyse (MSA) mit der Software Minitab
M.Sc. Lisa Schreiber, Solution Analyst, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424
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11:00 - 11:30
♦ Non-contact torque sensors with innovative compensation for environmental effects such as speed, temperature and parasitic forcese
Dr. Ernst Manner, Geschäftsführung, Manner Sensortelemetrie GmbH, Spaichingen, Stand 1-556
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11:30 - 12:00
♦ Accredited Digital Calibration Certificates (DCCs): Automated Generation and Utilization for Thermal Process Monitoring
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, Stand 2-4C
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12:00 - 13:00
♦ Digital Calibration Certificates (DCC) and GEMIMEG-II
Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig
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13:00 - 14:00
♦ From self-diagnosis to in-situ metrological verification
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach
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14:00 - 14:30
♦ Effects of mobility and energy transition on legal metrology
Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover
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14:30 - 15:30
♦ The NIST-on-a-Chip Program - Towards One-Step Traceability with a Focus on Quantum Based Technologies
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)
To the lecture -
15:30 - 16:30
♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz
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