Lectures and more
On 11 and 12 June the Technology Forum in hall 2 will be dedicated to the Innovative Calibration motto.
Admission is free.
You cannot come to Nuremberg? All presentations will be broadcasted and will be available online after the event.
♦ Presentation will be in English
Tuesday, 11.06.2024
10:00-10:30
Eine Kalibrierung vornehmen unter Zuhilfenahme der Software OriginPro
Dipl.-Ing. (FH) Markus Höhnen, Senior Vertriebsingenieur, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf (Germany), Stand 1-424
10:30-11:00
Systemkalibrierung und -analyse mit dem Wolfram System Modeler und der Wolfram Language
Harald Farcas, Wolfram Produktmanager, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf (Germany), Stand 1-424
11:00-11:30
Multi-axiale Kalibrierung: Verfahren und Messunsicherheit
Gerhard Schulder, Product Development, GTM Testing and Metrology GmbH, Bickenbach (Germany), Stand 1-567
11:30-12:00
♦ Smart Calibration on the Horizon: Is your Organization Up for the Challenge?
Matilda Ullrich + Ingo Müllner, Beamex GmbH, Mönchengladbach (Germany), Stand 2-110
Special Session
Moderation: Prof. mult. Dr.-Ing. Klaus-Dieter Sommer,
Technische Universität Ilmenau, Institute Process Measurement &
Sensor Technology (IPMS), Ilmenau (Germany)
12:00-13:00
Digital Calibration Certificates (DCC) und GEMIMEG-II
Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig (Germany)
13:00-14:00
Von der Selbstdiagnose zur in-situ metrologischen Bestätigung
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach (Germany)
14:00-14:30
Der digitale Kalibrierschien (DCC) mit Akkreditierung: Metrologische Rückführung und Qualitätssicherung auf Knopfdruck
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin (Germany), Stand 2-4C
14:30-15:00
Auswirkungen der Mobilitäts- und Energiewende auf das gesetzliche Messwesen
Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover (Germany)
15:00-16:00
♦ The NIST-on-a-Chip Program - Towards One-Step Traceability
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)
16:00-17:00
♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz (Germany)
Wednesday, 12.06.2024
10:00-10:30
Meatest Kalibriertechnik - Produktübersicht und Vorstellung der aktuellen Multifunktionskalibratoren Serie 9000
Guido Rienks, Geschäftsführer, ADM Messtechnik GmbH & Co. KG, Gelnhausen (Germany), Stand 2-3A
10:30-11:00
Wie präzise und genau messe ich - ist mein Messsystem kalibriert? Messsystemanalyse (MSA) mit der Software Minitab
M.Sc. Lisa Schreiber, Solution Analyst, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf (Germany), Stand 1-424
11:00-11:30
♦ Non-contact torque sensors with innovative compensation for environmental effects such as speed, temperature and parasitic forces
Dr. Ernst Manner, Geschäftsführung, Manner Sensortelemetrie GmbH, Spaichingen (Germany), Stand 1-556
11:30-12:00
♦ Accredited Digital Calibration Certificates (DCCs): Automated Generation and Utilization for Thermal Process Monitoring
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin (Germany), Stand 2-4C
Special Session
Moderation: Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische
Bundesanstalt (PTB), Braunschweig (Germany)
12:00-13:00
♦ Digital Calibration Certificates (DCC) and GEMIMEG-II
Dir. u. Prof. Dr. Siegfried Hackel, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig (Germany)
13:00-14:00
♦ From self-diagnosis to in-situ metrological verification
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach (Germany)
14:00-14:30
♦ Effects of mobility and energy transition on legal metrology
Dr. Jörg Riedel, Landesbetrieb Mess- und Eichwesen Niedersachsen MEN, Hannover (Germany)
14:30-15:30
♦ The NIST-on-a-Chip Program- Towards One-Step Traceability with a Focus on Quantum Based Technologies
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)
15:30-16:30
♦ Real-Time Diagnostics for sustainable industrial processes
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz (Germany)
