Programm 06.05.2025

♦ Vortrag wird in Englisch gehalten


Forum Halle 1
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10:30-11:00
MANNER Telemetrie - Möge die Macht unserer Technologie mit euch sein!
Die neuesten Innovationen - Ein Meilenstein in Punkto Telemetrie!
Dr.-Ing. Ernst Manner, Geschäftsführer, Manner Sensortelemetrie GmbH, Spaichingen, Stand 1-450

11:00-11:30
Von der Datenerfassung bis zur Datenanalyse: Moderne Lösungen mit der Wolfram Technologie
Harald Farcas, Produktmanager, ADDITIVE Soft- und Hardware für Technik und Wissenschaft GmbH, Friedrichsdorf, Stand 1-424

11:30-12:00
Innovative Qualitätssensoren für OEM-Anwendungen: Berührungslose Medienerkennung der Zukunft
Armin Wellhöfer, Geschäftsführer, EBE sensor+motion, Leinfelden-Echterdingen, Stand 1-336

12:00-12:30
Recruiting:  Top-Talente statt Fehlgriffe – 3 Tipps, um den perfekten Mitarbeiter zu erkennen
Carolin Bark, Bark recruiting+, Potsdam, Stand 2-104

13:00-13:30
♦ Density, Viscosity and Concentration Measurement: High Pressure and Heavy Gases
Dr. Christof Huber, Principal Expert Advanced Sensor Technology, TrueDyne Sensors AG, Reinach (Switzerland), Stand 1-308

13:30-14:00
♦ Hamamatsu's Pilot Line: From photonic module concepts to market-ready products
Andrey Voloshin, Senior Technologist, Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH, Herrsching, Stand 1-314

14:00-14:30
♦ Choosing the right MEMS vibration sensor for condition monitoring applications
Pasi Myllymäki, EMEA Technical Marketing Manager for MEMS Sensors, STMicroelectronics International NV, Plan-les-Ouates (Switzerland), Stand 1-320

Forum Halle 2
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          Special Session "Innovative Calibration"
          Moderation: Prof. mult. Dr.-Ing. Klaus-Dieter Sommer, Technische Universität Ilmenau,
          Institute Process Measurement & Sensor Technology (IPMS), Ilmenau

12:00-12.30
Von der Selbstdiagnose zur in-situ metrologischen Bestätigung
Dr. Ulrich Kaiser, DHBW Lörrach, Lörrach

12:30-13:30
Metrologische Rückführung auf Knopfdruck | Digitale Zertifikate und die Automatisierung der Qualitätssicherung
Dr. Michael Melzer, Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin

13:30-14:30
♦ The NIST-on-a-Chip Program Vision: Quantum-Based Measurements and Sensors with One-Step Traceability
Dr. Jay H. Hendricks, National Institute of Standards and Technology – NIST, Gaithersburg (USA)

14:30-15:30
Echtzeit-Diagnostik für nachhaltige industrielle Prozesse
Dr. Thomas Keutel, Technische Universität Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Chemnitz